• 목록

 

Probe card cleaning system 400P-A / 400P-S

- 반도체 웨이퍼를 검사하는 Probe card를 세정하는 장비로 레이저를 이용해 Probe tip 표면의 오염을 제거합니다. 

- Probe card 종류에 따라 작업 recipe를 작성하여 자동으로 세정합니다.

- 자동, 반자동, 수동 장비가 있습니다