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Probe card cleaning system

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400P-A / 400P-S

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Writer 관리자
Comment 0Count View 406Time Date Created 21-08-01 20:41

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Probe card cleaning system 400P-A / 400P-S


- 我们的激光设备是利用激光去除Probetip表面的异物颗粒,Probetip是半导体中检验晶圆的Probe card顶层一端。

- 根据Probe card 的尺寸类型,设置好与其对应的程序配方后进行自动清洗。

- 有自动、半自动、手动设备。


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