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LASER / CO

LASER / CO₂

Semicon. probe card cleaning

400P-A / #400P-S (Probe card cleaning system)

  • 检查半导体晶圆的Probe card洗涤装备,利用镭射去除Probe tip表面的污染。
  • 根据Probe card的种类,制定作业recipe后,自动洗涤。
  • 有自动、半自动、手动装备。
  • < Probe card cleaning - 400P (镭射洗涤机) >